元件评价/LAT(批量验收试验) - 与 Micross 合作的裸芯片产品与服务
基本概念
每个半导体管芯的特性都是唯一的,尽管两个管芯可能原自同一种类,同样的制造方式,甚至是同一圆片,但由于在原子结构方面的本质差别,它们的电气性能决不会100%相同.这种特性的差别一般是细微的,并且常常是不会对芯片设计者和制造者所关注的电气性能有实际影响的.为了保证产品的一致性,可以进行元件评价/LAT,当用户要求其产品应满足电气试验标准的额外保证时,通常就需要这样做.一般是要求在极端的环境下元件应有功能,例如用于特种设备上的产品.试验包括产品的机械可靠性又包括电气可靠性,而LAT能确定不同批次半导体管芯是否满足预先设定的操作条例.
元件评价/LAT(批量验收试验)—工艺过程
当要求LAT测试时,一般是参照由DSCC制定的规范标准,这些标准能构成LAT的部分或全部要求,通常这些规范是以MIL-PRF-38534的形式,其包含了H和K后缀.用户的最终应用决定着所需LAT规范的类型.
试验也可以参照客户自己的标准,这些标准能够反映MIL规范,制造商的数据表或者在制造商所保证的设计参数之外的测试要求.如果我们觉得被测试元件不能满足某种规范时,我们的技术人员会在测试前提出建议和咨询,这是多年的经验积累下来的很有价值的资源,省时,省钱.必要时,我们也会协助客户制定满足其应用要求的规范.
元件评价/LAT（批量验收试验）--能力
我们有对各式各样半导体器件进行试验的专门技术和能力。在产品和用户最终应用方面的知识使我们在电气试验方面有着广泛的业务量。
能够在+25℃-+125℃温度范围内对管芯/圆片测试；能够在-70℃--+200℃温度范围内对封装器件测试。
LAT/元件评价试验可以遵照厂商发布的参数表或者用户制定的规范以及包括BS，CECC，MIL或者SPACE等级的工业标准进行。
每个LAT测试提供完整的全面的测试数据，以及CTR（经鉴定的实验报告）和已封装的电试验样品，如有要求，数据也可以以电子表格的形式提供。
可以测试的产品包括：
模拟功能产品
数字功能产品
标准和特殊功能
54/74TTL系列
54/74COMS系列
CD4000CMOS系列
线性驱动器
解码器
级别转换器
D/A转换器
低电压/低功耗CMOS
电平转换器/缓存
解码器/多路复用器
存储器
混合信号/特定用途集成电路
